改良されたADINA8.3の接触解析手法の精度を実証するため、上に示す3-Dパッチテストは下の図に示すような3つの異なる
メッシュの組み合わせを使用して解析されます。最初のケースは、両方の物体が10節点のテトラでメッシングされています。2番目のケースでは両方とも20
節点のブリックでメッシングされており、3番目のケースでは下の物体は27節点ブリックで上の物体は11節点のテトラでメッシングされています。それぞれ
のケースで上と下のメッシュは全く異なる事に注意してください。また接触面が分離し上の物体がX軸について180°回転した最後の図も見てください。